Rambler's Top100

Реклама на сайте | Реклама в Интернет | "Все Кулички"


Главная страница
Все о компьютерном "железе"
Вся полезная информация
Эрудиту
Гарантированная продажа рекламных мест
Цены магазинов Москвы на ноутбуки и мобильные компьютеры
Мои разработки и переводы
Микроконтроллеры >>
Мои разработки
Полезные конструкции
Программаторы
FAQ по ПИКам
"Глюки" ПИКов
Ссылки
Железо и драйвера >>
Статьи и FAQ
Ссылки на статьи
Определение конфигурации
Настройка компонентов ПК
Утилиты для накопителей информации
Ремонт "железа"
Восстановление информации
Полезный софт
Операционные системы
Безопасность и защита информации
Радиоэлектроника
Программирование >>
Техдокументация
Разработчику программ
Мобильники
Вебмастеру
Поиск информации
On-Line перевод
Обмен ссылками, сотрудничество
Немного о себе
Контакты
Гостевая книга
Форум

Поиск на сайте
Поиск на Куличках:

Сделать стартовой страницей

Реклама:

(!) MP3 плееры всех видов. Возьми с собой 6 обычных Audio-CD на одном(!!!) MP3-CD
Телевизоры, DVD-плееры, видеомагнитофоны, видео-плееры. Аппаратура Hi-End класса


rax.ru: показано число посетителей за сегодня

Рейтинг@Mail.ru

RadioTOP-рейтинг радиотехнических сайтов
PROext: Top 1000
ENGLISH version
Здравствуйте! Вторник, 18 февраля 2020

Автор: Маврицин Михаил

Источник: "PC JUNGLE SOFTWARE"

Все, что вы хотели знать о S.M.A.R.T.



S.M.A.R.T.
Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology



Сентябрь 03, 2001 г.

Маврицин Михаил
e-mail: hwdiver@nightmail.ru, pcjs@chat.ru
ICQ 113340769
FIDOnet: 2:5020/2112.55
2:5020/3637.55


Содержание


1. Технология S.M.A.R.T
    1.1. Общее описание
    1.2. Развитие технологии S.M.A.R.T.
1.3. Атрибуты (attribute)
    1.3.1. Значения атрибутов (attribute values)
    1.3.2. Пороговые значения атрибутов (attribute thresholds)
    1.3.3. Краткое описание основных атрибутов
    1.3.4. Типы атрибутов
1.4. Автономное сканирование поверхности (off-line read scanning)
1.5. Журналы ошибок (error log)
    1.5.1. Log Directory
    1.5.2. Summary Error Log
    1.5.3. Comprehensive Error Log
    1.5.4. Extended Comprehensive Error Log
    1.5.5. Self-test Log
    1.5.6. Extended Self-test Log
    1.5.7. Streaming Performance Log
    1.5.8. Write Stream Error Log
    1.5.9. Read Stream Error Log
    1.5.10. Delayed LBA Sector Log
    1.5.11. ECC Uncorrectable Sector Log
    1.5.12. Reassigned Sector Log
    1.5.13. Drive Activity Log
    1.5.14. Drive Time Buffer Log
    1.5.15. Host Vendor Specific Log
    1.5.16. Device Vendor Specific Log
1.6. Встроенные функции самоконтроля (self-test)
    1.6.1. Методы тестирования
    1.6.2. Разновидности тестов S.M.A.R.T.



  Ёту статью не следует рассматривать как руководство пользователи или документацию для программистов.
  Цель проделанной мною работы - попытаться разьяснить в приличной, доступной, а главное - рускоязычной форме, [все] особенности данной технологии. Естесственно, охватить ПОЛНОСТЬё все возможности технологии S.M.A.R.T. просто не возможно по причине ужасающего факта отсутствия какой-либо документации и нежелания подавляющего числа производителей жестких дисков предоставить необходимую информацию или вести какие-либо переговоры.

  Текст статьи постоянно обновляется, поэтому на возможные неточности и грамматические ошибки прошу не обращать внимания. Но если Вы заметите явную ошибку или "ужасающую" :) неточность - пожалуйста, напишите мне об этом.

  я с удовольствием приму любые комментарии по тексту, а также Ваши пожелания и дополнения.

P.S. В ближайшее время будет опубликован вариант статьи в удобном для печати формате PDF и в разделе "Журналы ошибок" появятся полные описания и форматы журналов с комментариями.





Технология S.M.A.R.T.

1.1. Общее описание.
    Технология S.M.A.R.T. - Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology (от англ. "Технология Самодиагностики, Анализа и Отчета") - была разработана для повышения надежности и сохранности данных на жестких дисках. В большинстве случаев, SMART-совместимые устройства позволяют предсказать появление наиболее вероятных ошибок и, тем самым, дают пользователю возможность своевременно сделать резервную копию данных и/или полностью заменить накопитель до выхода его из строя.
    S.M.A.R.T. представляет собой набор мини-подпрограмм, которые являются частью микрокода накопителя и определяют поддерживаемые диагностические функции. Наиболее распространенные среди них:

  • набор атрибутов, отражающих состояние отдельных параметров накопителя (до 30)
  • внутренние тесты накопителя (self-test)
  • журналы S.M.A.R.T. (ошибок, общего состояния, дефектных секторов и т.п.)


    В настоящий момент не существует официальной документации или стандарта на технологию S.M.A.R.T. В связи с этим, производители не публикуют полные характеристики и поддерживаемые функции S.M.A.R.T. в своих накопителях. Обязательный минимум описан в последнем стандарте ATA/ATAPI-6.

1.2. Развитие технологии S.M.A.R.T.
    История технологии S.M.A.R.T. не так уж и богата подробностями:

  • SMART I предусматривал мониторинг основных жизненно важных параметров и запускался только после команды по интерфейсу
  • в SMART II появилась возможность фоновой проверки поверхности, которая выполнялась накопителем автоматически во время "холостого хода"; появилась функция журналирования ошибок
  • в SMART III впервые появилась не только функция обнаружения дефектов поверхности, но и возможность их восстановления "прозрачно" для пользователя и многие другие новшества

    Известно, что первыми разработали основы и предложили эту технологию совместно Western Digital, Seagate и Quantum. После этого их уже поддержали такие компании как IBM, Maxtor и Samsung. Hitachi приняла участие в развитии технологии S.M.A.R.T. уже на стадии разработки SMART II, первыми предложив методику полной самодиагностики накопителя (extended self-test).
    В настоящее время производители жестких дисков готовятся принять к использованию новый вариант технологии S.M.A.R.T. - "1024 S.M.A.R.T.", характерной особенностью которого будет заметно бОльший размер журналов, повсеместное использование мультисекторных журналов, более точные алгоритмы анализа показаний встроенных в накопитель сенсоров (термодатчики, сенсоры ударов, и т.п.) и многое другое.
    Вот несколько новых функций:

  • введение алгоритма анализа температурного режима накопителя
  • введение ограничения по минимальной и максимальной температуре в рабочем состоянии
  • введение счетчика общего количества записанных секторов на протяжении жизненного цикла накопителя
  • введение счетчика запусков внутренних алгоритмов восстановления (recovery counters)

    Главным же плюсом можно считать введение новых атрибутов, которые позволят контролировать состояние и рабочие характеристики по каждой из головок чтения/записи:

  • относительная устойчивость (стабильность "полета") головки
  • исправление ошибок чтения (со "скрытыми" повторными попытками)
  • автоматическое перераспределение дефектных участков поверхности при операциях записи
  • счетчик-накопитель G-List для учета количества принятых ударных нагрузок
  • счетчик-накопитель S-List для учета общего количества "программных" ошибок



Атрибуты.

    Атрибуты S.M.A.R.T. - особые характеристики, которые используются при анализе состояния и запаса производительности накопителя. Атрибуты выбираются производителем накопителя, основываясь на способности этих атрибутов предсказывать ухудшение рабочих характеристик накопителя или определить его дефектность. Каждый производитель имеет свой характерный набор атрибутов и может свободно вносить изменения в этот набор в соответствиии со своими собственными требованиями и без уведомления об этом фирм-продавцов и конечных пользователей.


1.3.1. Значения атрибутов.
    Значения атрибутов (value) используются для представления относительной надежности отдельного эксплуатационного или эталонного атрибута. Допустимое значение атрибута лежит в диапазоне от 1 до 255. Высокое значение атрибута говорит о том, что результат анализа данной рабочей характеристики указывает на низкую вероятность ее ухудшения или выхода накопителя из строя. Соответственно, низкое значение атрибута говорит о том, что результат анализа данной рабочей характеристики указывает на высокую вероятность ее ухудшения или выхода накопителя из строя.


1.3.2. Пороговые значения атрибутов.
    Каждый атрибут имеет собственное пороговое значение (threshold), которое используется для сравнения со значением атрибута (value) и указывает на ухудшение рабочих характеристик или дефектность накопителя. Числовое значение порогового атрибута определяется производителем накопителя через конструкционные особенности накопителя и анализ результатов испытаний на надежность. Пороговое значение каждого атрибута указывает на нижнюю допустимую границу значения атрибута, вплоть до которой сохраняется положительный статус надежности.
    Пороговые значения устанавливаются в заводских условиях производителем накопителя и, в большинстве случаев, могут быть изменены только после переключения накопителя в технологический (factory mode). Допустимое пороговое значение атрибута может находится в диапазоне от 1 до 255.

    Если значение одного или более атрибутов, имеющих тип pre-failure (в HDD Speed отмечаются символом "*"), меньше или равно соответствующего порогового значения, то это свидетельствует о предстоящем ухудшении рабочих характеристик и/или полном выходе накопителя из строя.


1.3.3. Краткое описание основных атрибутов.
    Данный перечень атрибутов является наиболее полным из доступных на сегодняшний момент в Сети или иных источниках. Назначение атрибутов и способ интерпретации их значений выявлены либо опытным путем, либо получены от служб технической поддержки компаний-производителей накопителей.
    Ниже приведена сводная таблица всех известных мне атрибутов (55) и краткое описание к большинству (38) из них.

ID Название атрибута
0    = атрибут не используется
1   Raw Read Error Rate
2   Throughput Performance
3   Spin Up Time
4   Start/Stop Count
5   Reallocated Sector Count
6   Read Channel Margin
7   Seek Error Rate
8   Seek Time Performance
9   Power-On Hours Count
10   Spin Retry Count
11   Recalibration Retries
12   Device Power Cycle Count
13   Soft Read Error Rate
??   Emergency Re-track (Hitachi)
??   ECC On-The-Fly Count (Hitachi)
96   ? (Maxtor)
97   ? (Maxtor)
98   ? (Maxtor)
99   ? (Maxtor)
100   ? (Maxtor)
101   ? (Maxtor)
191   G-Sense Error Rate
192   Power-Off Retract Cycle
193   Load/Unload Cycle Count
194   Temperature
195   ? (Quantum AS, Seagate, Maxtor)
196   Reallocation Events Count
197   Current Pending Sector Count
198   Uncorrectable Sector Count
199   UltraDMA CRC Error Rate
200   Write Error Rate (в WD - MultiZone Error Rate)
201   TA Counter Detected
202   TA Counter Increased
203   ? (Maxtor)
204   ? (Maxtor)
205   ? (Maxtor)
206   ? (Maxtor)
207   ? (Maxtor)
208   ? (Maxtor)
209   ? (Maxtor)
220   Disk Shift
221   G-Sense Error Rate (в Hitachi - Shock Sense Error Rate)
222   Loaded Hours
223   Load/Unload Retry Count
224   Load Friction
225   Load/Unload Cycle Count
226   Load-in Time
227   Torque Amplification Count
228   Power-Off Retract Count
229   ? (IBM DTTA, thanx to Vladislav Shaklein)
230   GMR Head Amplitude
231   Temperature
240   Head Flying Hours (Hitachi)
250   Read Error Retry Rate



    Краткое описание известных атрибутов.